马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。
您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?免费注册用户名
×
MSA手册第B节测量过程——测量系统——变差来源,阐述了如下一句(英文版见图1): 测量系统受到变差的随机因素和系统因素的影响。这些变差的来源是由普通原因和特殊原因造成的。 随机因素是测量系统的普通原因引起,如量具的重复性,同一量具每次测量的重复性都不可能一样。 偏倚的存在与否就是测量系统的系统因素引起的,偏倚是客观存在的,只是大小而已。 关于系统因素的理解,我仅知道这点,请各位指教! 谢谢!
|