主贴补充资料如下:
+ T4 j& _7 N- d1.外部有资质机构做的是校准,不是检定,但是使用的依据是JJG 1036-2008电子天平检定规程,联系过该实验室工程师,其回复是“检定和校准的主要区别:检定需要计量授权,所以检定一般都是国家设定的检定机构(各区,省,市等计量所)才能做。为什么他们校准证书,为什么选的依据是检定规程。而不是校准规范(JJF 1847-2020 电子天平校准),原因是检定:要完全按照检定规程去做,反之没有检定规程的仪器是做不了检定的,所以国家后面出了校准规范JJF。”
& [" R3 w3 w. o2 q
- @1 Y2 N4 \) T3 ] H' P( g+ F6 m6 g
5 K6 ?+ p+ R" E8 Y- y3 X2.产线的天平做什么用途?这个天平用来称量白胶配比,涉及一个涂螺纹胶的工艺,配比不均会导致涂胶不良,防水性下降。不属于计量法的强检范畴。
: @$ Q8 p6 ~' f$ g& h6 |: c4 \* o) h, j* Q& e- G- G6 s
! H$ r, S; I0 m2 J6 z0 V" a
3.企业建立了《监视和测量装置控制程序》,因为之前都是外校,为了本次内校,更新了如下内容:
; ^- Z+ q) s, \) p! w' ^修订3.0增加内校术语定义 内校:内部校验,使用经过外校的一台同类仪器对未有经过外校的其他设备进行校验,即同级比较或者比对。 修订4.1增加内校职责 4.1评测实验室:外校:负责各部门仪器设备的校正计划拟定与申请外部校验作业。 内校:负责各部门仪器设备的内部比对校验与标签管理。 修订6.5.6 增加内部校验、免校内容,相应标签管理内容- B' C* I: s: d* Z5 s
6.5.6 未统一送校的测量设备(漏校/新购/维修等),由使用部门向实验室提出比对校验。 适应于6.2.2原则,不宜校准的测量设备免校,张贴免校验标签(见图1),宜校准的测量设备进行比对校验,校验合格张贴标签(见图2)。比对校验要求如下: (1)比对基准:经计量检定合格的温湿度表(计)、卡尺、压力表、电子秤、万用表。经计量检定合格的砝码。 (2)比对步骤:电子秤(示例) 1.检查称量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹; 2.调校零位,使数值归零; 3.取2~3块任意基准砝码进行度量,砝码要干净、平整。每块连续测量三次,每次测量记录基准电子秤的数值。允许误差范围根据不同电子秤的精度分为±1g,±2g; 4. 取2~3块任意基准砝码进行度量,砝码要干净、平整。每块连续测量三次,每次测量记录被比对电子秤的数值; 5.历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判比对合格,张贴内校标签(图2)。 测量比对值需写入《内校仪器记录》中。7 {) B8 X) I9 `( Y3 \
综上,该组织本次内校会有不符合或者风险点产生嘛?
: \4 k Y. @$ c; e |